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Documents dont l'auteur est "Puech, Louis"

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Communication écrite

Puech, L., Dupuis, A., Dadouchi, C., & Pellerin, R. (juillet 2024). Applied Data Analytics Approach for Defect Root Causes Analysis in Manufacturing: The Case of Multi-Product Assembly Lines [Communication écrite]. 2024 IEEE 48th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC 2024), Osaka, Japan. Lien externe

Mémoire de maîtrise

Puech, L. (2022). Méthode d'analyse causale des défauts sur une ligne d'assemblage multiproduit [Mémoire de maîtrise, Polytechnique Montréal]. Disponible

Liste produite: Mon Jan 12 04:48:03 2026 EST.