Louis Puech, Ambre Dupuis, Camélia Dadouchi
, Robert Pellerin
Communication écrite (2024)
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Département:
ISBN:
9798350376968
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
2024 IEEE 48th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC 2024)
Lieu de la conférence:
Osaka, Japan
Date(s) de la conférence:
2024-07-02 - 2024-07-04
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:59336
ORCID
Date du dépôt:
24 sept. 2024 16:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:20
Citer en APA 7:
Puech, L., Dupuis, A., Dadouchi, C., & Pellerin, R. (juillet 2024). Applied Data Analytics Approach for Defect Root Causes Analysis in Manufacturing: The Case of Multi-Product Assembly Lines [Communication écrite]. 2024 IEEE 48th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC 2024), Osaka, Japan. https://doi.org/10.1109/compsac61105.2024.00044
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