Brett N. Carnio, Anis Attiaoui, Simone Assali, Oussama Moutanabbir
, Abdulhakem Y. Elezzabi, Laurence P. Sadwick, Tianxin Yang
Communication écrite (2022)
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Nom de la conférence:
Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XV
Lieu de la conférence:
San Francisco, California, United States
Date(s) de la conférence:
2022-01-22 - 2022-02-28
Maison d'édition:
SPIE
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:52444
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 14:58
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:10
Citer en APA 7:
Carnio, B. N., Attiaoui, A., Assali, S., Moutanabbir, O., Elezzabi, A. Y., Sadwick, L. P., & Yang, T. (janvier 2022). A method based on complementary transmission and reflection measurements for extracting the optical properties of a thin film [Communication écrite]. Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XV, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2607676
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