A method based on complementary transmission and reflection measurements for extracting the optical properties of a thin film

Brett N. Carnio, Anis Attiaoui, Simone Assali, Oussama Moutanabbir, Abdulhakem Y. Elezzabi, Laurence P. Sadwick et Tianxin Yang

Communication écrite (2022)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/52444/
Nom de la conférence:	Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XV
Lieu de la conférence:	San Francisco, California, United States
Date(s) de la conférence:	2022-01-22 - 2022-02-28
Maison d'édition:	SPIE
DOI:	10.1117/12.2607676
URL officielle:	https://doi.org/10.1117/12.2607676
Date du dépôt:	18 avr. 2023 14:58
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:57

Citer en APA 7:

Carnio, B. N., Attiaoui, A., Assali, S., Moutanabbir, O., Elezzabi, A. Y., Sadwick, L. P., & Yang, T. (janvier 2022). A method based on complementary transmission and reflection measurements for extracting the optical properties of a thin film [Communication écrite]. Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XV, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2607676

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