Brett N. Carnio, Anis Attiaoui, Simone Assali, Oussama Moutanabbir, Abdulhakem Y. Elezzabi, Laurence P. Sadwick et Tianxin Yang
Communication écrite (2022)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/52444/ |
Nom de la conférence: | Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XV |
Lieu de la conférence: | San Francisco, California, United States |
Date(s) de la conférence: | 2022-01-22 - 2022-02-28 |
Maison d'édition: | SPIE |
DOI: | 10.1117/12.2607676 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.2607676 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 14:58 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:43 |
Citer en APA 7: | Carnio, B. N., Attiaoui, A., Assali, S., Moutanabbir, O., Elezzabi, A. Y., Sadwick, L. P., & Yang, T. (janvier 2022). A method based on complementary transmission and reflection measurements for extracting the optical properties of a thin film [Communication écrite]. Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XV, San Francisco, California, United States. https://doi.org/10.1117/12.2607676 |
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