Yves Blaquière, Yvon Savaria
et Jaouad El Fouladi
Communication écrite (2007)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 9781424413775 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/52361/ |
| Nom de la conférence: | 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2007) |
| Lieu de la conférence: | Marrakech, Morocco |
| Date(s) de la conférence: | 2007-12-11 - 2007-12-14 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icecs.2007.4510926 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510926 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:16 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:21 |
| Citer en APA 7: | Blaquière, Y., Savaria, Y., & El Fouladi, J. (décembre 2007). Digital Measurement Technique for Capacitance Variation Detection on Integrated Circuit I/Os [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2007), Marrakech, Morocco (4 pages). https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510926 |
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