Yves Blaquière, Yvon Savaria
, Jaouad El Fouladi
Communication écrite (2007)
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Département:
ISBN:
9781424413775
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2007)
Lieu de la conférence:
Marrakech, Morocco
Date(s) de la conférence:
2007-12-11 - 2007-12-14
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:52361
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:10
Citer en APA 7:
Blaquière, Y., Savaria, Y., & El Fouladi, J. (décembre 2007). Digital Measurement Technique for Capacitance Variation Detection on Integrated Circuit I/Os [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2007), Marrakech, Morocco (4 pages). https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510926
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