Digital Measurement Technique for Capacitance Variation Detection on Integrated Circuit I/Os

Yves Blaquiere, Yvon Savaria et Jaouad El Fouladi

Communication écrite (2007)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/52361/
Nom de la conférence:	14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2007)
Lieu de la conférence:	Marrakech, Morocco
Date(s) de la conférence:	2007-12-11 - 2007-12-14
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/icecs.2007.4510926
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510926
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:16
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:57

Citer en APA 7:	Blaquiere, Y., Savaria, Y., & El Fouladi, J. (décembre 2007). Digital Measurement Technique for Capacitance Variation Detection on Integrated Circuit I/Os [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2007), Marrakech, Morocco (4 pages). https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510926
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