Racheli Gordon-Soffer, Lucien Weiss
, Ran Eshel, Boris Ferdman, Elias Nehme, Moran Bercovici, Yoav Shechtman
Article de revue (2020)
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Titre de la revue
:
Science Advances
(
vol.
6
,
no
44
)
Maison d'édition:
American Association for the Advancement of Science
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:49592
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:05
Citer en APA 7:
Gordon-Soffer, R., Weiss, L., Eshel, R., Ferdman, B., Nehme, E., Bercovici, M., & Shechtman, Y. (2020). Microscopic scan-free surface profiling over extended axial ranges by point-spread-function engineering. Science Advances, 6(44). https://doi.org/10.1126/sciadv.abc0332
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