Racheli Gordon-Soffer, Lucien Weiss
, Ran Eshel, Boris Ferdman, Elias Nehme, Moran Bercovici et Yoav Shechtman
Article de revue (2020)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/49592/ |
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| Édition: | 2020/10/30e éd. |
| Titre de la revue: | Sci Adv (vol. 6, no 44) |
| DOI: | 10.1126/sciadv.abc0332 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1126/sciadv.abc0332 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:00 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:52 |
| Citer en APA 7: | Gordon-Soffer, R., Weiss, L., Eshel, R., Ferdman, B., Nehme, E., Bercovici, M., & Shechtman, Y. (2020). Microscopic scan-free surface profiling over extended axial ranges by point-spread-function engineering. Sci Adv, 6(44). https://doi.org/10.1126/sciadv.abc0332 |
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