Racheli Gordon-Soffer, Lucien Weiss
, Ran Eshel, Boris Ferdman, Elias Nehme, Moran Bercovici et Yoav Shechtman
Article de revue (2020)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/49592/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Science Advances (vol. 6, no 44) |
| Maison d'édition: | American Association for the Advancement of Science |
| DOI: | 10.1126/sciadv.abc0332 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1126/sciadv.abc0332 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:00 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:16 |
| Citer en APA 7: | Gordon-Soffer, R., Weiss, L., Eshel, R., Ferdman, B., Nehme, E., Bercovici, M., & Shechtman, Y. (2020). Microscopic scan-free surface profiling over extended axial ranges by point-spread-function engineering. Science Advances, 6(44). https://doi.org/10.1126/sciadv.abc0332 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
