Milad Omrani Tamrin, Sébastien Henwood, Jean-François Dubois, Jean-Jules Brault, Saad Chidami et Samuel Bassetto
Communication écrite (2019)
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| Département: |
Département de mathématiques et de génie industriel Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| ISBN: | 9781728110318 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/44375/ |
| Nom de la conférence: | 17th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2019) |
| Lieu de la conférence: | Munich, Germany |
| Date(s) de la conférence: | 2019-06-23 - 2019-06-26 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/newcas44328.2019.8961246 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas44328.2019.8961246 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:02 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:23 |
| Citer en APA 7: | Tamrin, M. O., Henwood, S., Dubois, J.-F., Brault, J.-J., Chidami, S., & Bassetto, S. (juin 2019). Using deep learning approaches to overcome limited dataset issues within semiconductor domain [Communication écrite]. 17th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2019), Munich, Germany (4 pages). https://doi.org/10.1109/newcas44328.2019.8961246 |
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