N. Belabbes, A. Guterman, Yvon Savaria
, Michel Dagenais
Communication écrite (1992)
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ISBN:
0780305930
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992)
Lieu de la conférence:
San Diego, CA, United states
Date(s) de la conférence:
1992-05-10 - 1992-05-13
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43519
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:55
Citer en APA 7:
Belabbes, N., Guterman, A., Savaria, Y., & Dagenais, M. (mai 1992). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992), San Diego, CA, United states. https://doi.org/10.1109/iscas.1992.230281
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