N. Belabbes, A. Guterman, Yvon Savaria
et Michel Dagenais
Communication écrite (1992)
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| Département: |
Département de génie informatique et génie logiciel Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43519/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992) |
| Lieu de la conférence: | San Diego, CA, United states |
| Date(s) de la conférence: | 1992-05-10 - 1992-05-13 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iscas.1992.230281 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1992.230281 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:41 |
| Citer en APA 7: | Belabbes, N., Guterman, A., Savaria, Y., & Dagenais, M. (mai 1992). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992), San Diego, CA, United states. https://doi.org/10.1109/iscas.1992.230281 |
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