Chao Chen, Jacopo Panerati, Meng Li et Giovanni Beltrame
Article de revue (2019)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie informatique et génie logiciel |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43133/ |
Titre de la revue: | IET Computers and Digital Techniques (vol. 13, no 3) |
Maison d'édition: | IET |
DOI: | 10.1049/iet-cdt.2018.5043 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1049/iet-cdt.2018.5043 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:41 |
Citer en APA 7: | Chen, C., Panerati, J., Li, M., & Beltrame, G. (2019). Probabilistic timing analysis of time-randomised caches with fault detection mechanisms. IET Computers and Digital Techniques, 13(3), 129-139. https://doi.org/10.1049/iet-cdt.2018.5043 |
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