Probabilistic timing analysis of time-randomised caches with fault detection mechanisms

Chao Chen, Jacopo Panerati, Meng Li et Giovanni Beltrame

Article de revue (2019)

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Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/43133/
Titre de la revue:	IET Computers and Digital Techniques (vol. 13, no 3)
Maison d'édition:	IET
DOI:	10.1049/iet-cdt.2018.5043
URL officielle:	https://doi.org/10.1049/iet-cdt.2018.5043
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:	08 avr. 2025 07:07

Citer en APA 7:	Chen, C., Panerati, J., Li, M., & Beltrame, G. (2019). Probabilistic timing analysis of time-randomised caches with fault detection mechanisms. IET Computers and Digital Techniques, 13(3), 129-139. https://doi.org/10.1049/iet-cdt.2018.5043
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