Chao Chen, Jacopo Panerati, Meng Li, Giovanni Beltrame
Article de revue (2019)
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Département:
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Titre de la revue
:
IET Computers and Digital Techniques
(
vol.
13
,
no
3
)
Maison d'édition:
IET
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43133
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Chen, C., Panerati, J., Li, M., & Beltrame, G. (2019). Probabilistic timing analysis of time-randomised caches with fault detection mechanisms. IET Computers and Digital Techniques, 13(3), 129-139. https://doi.org/10.1049/iet-cdt.2018.5043
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