Communication écrite (1992)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43087/ |
Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1992) |
Lieu de la conférence: | Dallas, TX, United states |
Date(s) de la conférence: | 1992-11-04 - 1992-11-06 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/dftvs.1992.224366 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1992.224366 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:40 |
Citer en APA 7: | Thibeault, C., & Savaria, Y. (novembre 1992). Comparing results from defect-tolerant yield models [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1992), Dallas, TX, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.1992.224366 |
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