Claude Thibeault, Yvon Savaria
Communication écrite (1992)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0818628375
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1992)
Lieu de la conférence:
Dallas, TX, United states
Date(s) de la conférence:
1992-11-04 - 1992-11-06
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43087
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Thibeault, C., & Savaria, Y. (novembre 1992). Comparing results from defect-tolerant yield models [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1992), Dallas, TX, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.1992.224366
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