Claude Thibeault et Yvon Savaria
Communication écrite (1992)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| ISBN: | 0818628375 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43087/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1992) |
| Lieu de la conférence: | Dallas, TX, United states |
| Date(s) de la conférence: | 1992-11-04 - 1992-11-06 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1992.224366 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1992.224366 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:07 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., & Savaria, Y. (novembre 1992). Comparing results from defect-tolerant yield models [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1992), Dallas, TX, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.1992.224366 |
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