Khaza Anuarul Hoque, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Article de revue (2019)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/41258/ |
| Titre de la revue: | Reliability Engineering and System Safety (vol. 182) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/j.ress.2018.10.011 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.ress.2018.10.011 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:02 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:05 |
| Citer en APA 7: | Hoque, K. A., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2019). Dependability modeling and optimization of triple modular redundancy partitioning for SRAM-based FPGAs. Reliability Engineering and System Safety, 182, 107-119. https://doi.org/10.1016/j.ress.2018.10.011 |
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