M. Jamoussi, S. Amellal et Bozena Kaminska
Communication écrite (1998)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/40410/ |
| Nom de la conférence: | 10th International Conference on Microelectronics (ICM 1998) |
| Lieu de la conférence: | Monastir, Tunisia |
| Date(s) de la conférence: | 1998-12-14 - 1998-12-16 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icm.1998.825572 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icm.1998.825572 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:25 |
| Citer en APA 7: | Jamoussi, M., Amellal, S., & Kaminska, B. (décembre 1998). High-level testability evaluation of TASS synthesized systems [Communication écrite]. 10th International Conference on Microelectronics (ICM 1998), Monastir, Tunisia. https://doi.org/10.1109/icm.1998.825572 |
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