D. Audet, S. Masson, Yvon Savaria
Communication écrite (1998)
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Département:
ISBN:
0818688327
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1998)
Lieu de la conférence:
Austin, TX
Date(s) de la conférence:
1998-11-02 - 1998-11-04
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:40287
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:50
Citer en APA 7:
Audet, D., Masson, S., & Savaria, Y. (novembre 1998). Reducing fault sensitivity of microprocessor-based systems by modifying workload structure [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1998), Austin, TX. https://doi.org/10.1109/dftvs.1998.732172
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