D. Audet, S. Masson et Yvon Savaria
Communication écrite (1998)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0818688327 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/40287/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1998) |
| Lieu de la conférence: | Austin, TX |
| Date(s) de la conférence: | 1998-11-02 - 1998-11-04 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1998.732172 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1998.732172 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:25 |
| Citer en APA 7: | Audet, D., Masson, S., & Savaria, Y. (novembre 1998). Reducing fault sensitivity of microprocessor-based systems by modifying workload structure [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1998), Austin, TX. https://doi.org/10.1109/dftvs.1998.732172 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
