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High Quality Delay Testing Scheme for a Self-Timed Microprocessor

Omar Al-Terkawi Hasib

Thèse de doctorat (2019)

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Département: Département de génie électrique
Programme: génie électrique
Directeurs ou directrices: Yvon Savaria et Claude Thibeault
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/4011/
Université/École: Polytechnique Montréal
Date du dépôt: 18 nov. 2019 13:49
Dernière modification: 01 avr. 2026 13:51
Citer en APA 7: Al-Terkawi Hasib, O. (2019). High Quality Delay Testing Scheme for a Self-Timed Microprocessor [Thèse de doctorat, Polytechnique Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/4011/

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