Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA

Mostafa Darvishi, Yves Audet, Yves Blaquière

Article de revue (2018)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/39633/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Nuclear Science ( vol. 65 , no 5 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/tns.2018.2828785
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tns.2018.2828785
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39633
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
29 oct. 2026 11:21
Citer en APA 7:
Darvishi, M., Audet, Y., & Blaquière, Y. (2018). Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65(5), 1153-1160. https://doi.org/10.1109/tns.2018.2828785

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