Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA

Mostafa Darvishi, Yves Audet et Yves Blaquière

Article de revue (2018)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/39633/
Titre de la revue:	IEEE Transactions on Nuclear Science (vol. 65, no 5)
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/tns.2018.2828785
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/tns.2018.2828785
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:35

Citer en APA 7:	Darvishi, M., Audet, Y., & Blaquière, Y. (2018). Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65(5), 1153-1160. https://doi.org/10.1109/tns.2018.2828785
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