Mostafa Darvishi, Yves Audet
et Yves Blaquière
Article de revue (2018)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39633/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Nuclear Science (vol. 65, no 5) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tns.2018.2828785 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tns.2018.2828785 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:03 |
| Citer en APA 7: | Darvishi, M., Audet, Y., & Blaquière, Y. (2018). Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA. IEEE Transactions on Nuclear Science, 65(5), 1153-1160. https://doi.org/10.1109/tns.2018.2828785 |
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