F. Z. Tazi, C. Thibeault et Yvon Savaria
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36187/ |
| Nom de la conférence: | IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2016) |
| Lieu de la conférence: | Vancouver, British Columbia |
| Date(s) de la conférence: | 2016-05-15 - 2016-05-18 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/ccece.2016.7726600 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ccece.2016.7726600 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:29 |
| Citer en APA 7: | Tazi, F. Z., Thibeault, C., & Savaria, Y. (mai 2016). Detailed analysis of radiation-induced delays on I/O blocks of an SRAM-based FPGA [Communication écrite]. IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2016), Vancouver, British Columbia (5 pages). https://doi.org/10.1109/ccece.2016.7726600 |
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