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Detailed analysis of radiation-induced delays on I/O blocks of an SRAM-based FPGA

Fatima Zahra Tazi, Claude Thibeault et Yvon Savaria

Communication écrite (2016)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/36187/
Nom de la conférence: IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2016)
Lieu de la conférence: Vancouver, British Columbia
Date(s) de la conférence: 2016-05-15 - 2016-05-18
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/ccece.2016.7726600
URL officielle: https://doi.org/10.1109/ccece.2016.7726600
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:06
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:20
Citer en APA 7: Tazi, F. Z., Thibeault, C., & Savaria, Y. (mai 2016). Detailed analysis of radiation-induced delays on I/O blocks of an SRAM-based FPGA [Communication écrite]. IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2016), Vancouver, British Columbia (5 pages). https://doi.org/10.1109/ccece.2016.7726600

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