Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit

Gontran Sion, Yves Blaquière, Yvon Savaria

Communication écrite (2015)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
ISBN:
9781467379052
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/36186/
Nom de la conférence:
21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015)
Lieu de la conférence:
Athena Pallas, Greece
Date(s) de la conférence:
2015-07-06 - 2015-07-08
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/iolts.2015.7229837
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229837
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36186
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:26
Citer en APA 7:
Sion, G., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (juillet 2015). Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit [Communication écrite]. 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015), Athena Pallas, Greece. https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229837

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