Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit

Gontran Sion, Yves Blaquière et Yvon Savaria

Communication écrite (2015)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
ISBN:	9781467379052
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/36186/
Nom de la conférence:	21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015)
Lieu de la conférence:	Athena Pallas, Greece
Date(s) de la conférence:	2015-07-06 - 2015-07-08
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/iolts.2015.7229837
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229837
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:	08 avr. 2025 12:21

Citer en APA 7:	Sion, G., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (juillet 2015). Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit [Communication écrite]. 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015), Athena Pallas, Greece. https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229837
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