J. Crépeau, Claude Thibeault, Yvon Savaria
Communication écrite (1993)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0818635029
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1993)
Lieu de la conférence:
Venice, Italy
Date(s) de la conférence:
1993-10-27 - 1993-10-29
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:35265
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:24
Citer en APA 7:
Crépeau, J., Thibeault, C., & Savaria, Y. (octobre 1993). Some results on yield and local design rule relaxation [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1993), Venice, Italy. https://doi.org/10.1109/dftvs.1993.595745
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