J. Crépeau, Claude Thibeault et Yvon Savaria
Communication écrite (1993)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| ISBN: | 0818635029 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/35265/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1993) |
| Lieu de la conférence: | Venice, Italy |
| Date(s) de la conférence: | 1993-10-27 - 1993-10-29 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1993.595745 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1993.595745 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 06:56 |
| Citer en APA 7: | Crépeau, J., Thibeault, C., & Savaria, Y. (octobre 1993). Some results on yield and local design rule relaxation [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1993), Venice, Italy. https://doi.org/10.1109/dftvs.1993.595745 |
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