Gilles L'Espérance
, P. Hovington, E. Baril et C. Blais
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
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| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33074/ |
| Nom de la conférence: | Réunion conjointe microscopy society of america (52ieme réunion annuelle) et microbeam analysis society (28ieme réunion annuelle) |
| Lieu de la conférence: | Nouvelle-Orléan, Louisiana, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1994-01-01 - 1994-12-31 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:15 |
| Citer en APA 7: | L'Espérance, G., Hovington, P., Baril, E., & Blais, C. (janvier 1994). Procedures and samples to monitor the long term low energy performance of energy-dispersive X-ray spectrometers [Communication écrite]. Réunion conjointe microscopy society of america (52ieme réunion annuelle) et microbeam analysis society (28ieme réunion annuelle), Nouvelle-Orléan, Louisiana, USA. |
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