Ayari Bechir et Bozena Kaminska
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32591/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing (vol. 42, no 7) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/82.401167 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/82.401167 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:15 |
| Citer en APA 7: | Bechir, A., & Kaminska, B. (1995). CYCLOGEN: Automatic, functional-level test generator based on the cyclomatic complexity measure and on the ROBDD representation. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing, 42(7), 446-452. https://doi.org/10.1109/82.401167 |
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