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New method for testing mixed analog and digital circuits

Janusz Rzeszut, Bozena Kaminska et Yvon Savaria

Communication écrite (1995)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31759/
Nom de la conférence: 4th Asian Test Symposium
Lieu de la conférence: Bangalore, India
Date(s) de la conférence: 1995-11-23 - 1995-11-24
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/ats.1995.485327
URL officielle: https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:13
Citer en APA 7: Rzeszut, J., Kaminska, B., & Savaria, Y. (novembre 1995). New method for testing mixed analog and digital circuits [Communication écrite]. 4th Asian Test Symposium, Bangalore, India. https://doi.org/10.1109/ats.1995.485327

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