M. Soufi, Yvon Savaria et Bozena Kaminska
Communication écrite (1995)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31712/ |
Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1995) |
Lieu de la conférence: | Seattle, WA, USA |
Date(s) de la conférence: | 1995-04-30 - 1995-05-03 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/iscas.1995.519922 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1995.519922 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
Citer en APA 7: | Soufi, M., Savaria, Y., & Kaminska, B. (avril 1995). On Using partial reset for pseudo-random testing [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1995), Seattle, WA, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1995.519922 |
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