Wang Tongqing, Ke Wu
, Cevdet Akyel
Communication écrite (1995)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0780326156
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995)
Lieu de la conférence:
Waltham, MA, USA
Date(s) de la conférence:
1995-04-24 - 1995-04-26
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31685
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Tongqing, W., Wu, K., & Akyel, C. (avril 1995). A direct technique for determining complex permittivity of dielectric material in a measurement cavity [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995), Waltham, MA, USA. https://doi.org/10.1109/imtc.1995.515111
Statistiques
Dimensions
