<  Retour au portail Polytechnique Montréal

A direct technique for determining complex permittivity of dielectric material in a measurement cavity

Wang Tongqing, Ke Wu et Cevdet Akyel

Communication écrite (1995)

Un lien externe est disponible pour ce document
Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31685/
Nom de la conférence: IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995)
Lieu de la conférence: Waltham, MA, USA
Date(s) de la conférence: 1995-04-24 - 1995-04-26
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/imtc.1995.515111
URL officielle: https://doi.org/10.1109/imtc.1995.515111
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 05 mai 2023 15:37
Citer en APA 7: Tongqing, W., Wu, K., & Akyel, C. (avril 1995). A direct technique for determining complex permittivity of dielectric material in a measurement cavity [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995), Waltham, MA, USA. https://doi.org/10.1109/imtc.1995.515111

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document