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Tongqing, W., Wu, K., & Akyel, C. (avril 1995). A direct technique for determining complex permittivity of dielectric material in a measurement cavity [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995), Waltham, MA, USA. Lien externe
Tongqing, W., & Wu, K. (1995). Dynamic analysis of uniplanar guided-wave structures with trapezoidal conductor profile and microshielding enclosure. IEICE Transactions on Electronics, 78(8), 1100-1105. Lien externe
Tongqing, W., & Wu, K. (mai 1994). Enhanced spectral domain analysis of coupled slotlines with septum and pedestal considering finite thickness of conductors for wideband MICs [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 1994), San Diego, CA, USA. Lien externe
