Wang Tongqing, Ke Wu
et Cevdet Akyel
Communication écrite (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31685/ |
| Nom de la conférence: | IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995) |
| Lieu de la conférence: | Waltham, MA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1995-04-24 - 1995-04-26 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/imtc.1995.515111 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/imtc.1995.515111 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Tongqing, W., Wu, K., & Akyel, C. (avril 1995). A direct technique for determining complex permittivity of dielectric material in a measurement cavity [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1995), Waltham, MA, USA. https://doi.org/10.1109/imtc.1995.515111 |
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