Yvon Savaria
, C. Thibeault, A. Ivanov
Article de revue (1996)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Design & Test of Computers
(
vol.
13
,
no
3
)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30892
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:39
Citer en APA 7:
Savaria, Y., Thibeault, C., & Ivanov, A. (1996). IEEE VSLI test symposium - meeting the quality challenge. IEEE Design & Test of Computers, 13(3), 110-112.
Statistiques
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