Yvon Savaria
, C. Thibeault et A. Ivanov
Article de revue (1996)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30892/ |
| Titre de la revue: | IEEE Design & Test of Computers (vol. 13, no 3) |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
| Citer en APA 7: | Savaria, Y., Thibeault, C., & Ivanov, A. (1996). IEEE VSLI test symposium - meeting the quality challenge. IEEE Design & Test of Computers, 13(3), 110-112. |
|---|---|
Statistiques
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