Yvon Savaria
, C. Thibeault et A. Ivanov
Article de revue (1996)
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30892/ |
| Titre de la revue: | IEEE Design & Test of Computers (vol. 13, no 3) |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:12 |
| Citer en APA 7: | Savaria, Y., Thibeault, C., & Ivanov, A. (1996). IEEE VSLI test symposium - meeting the quality challenge. IEEE Design & Test of Computers, 13(3), 110-112. |
|---|---|
Statistiques
Aucune statistique n'est disponible.
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
