M. Kafrounni, C. Thibeault et Yvon Savaria
Communication écrite (1997)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30365/ |
| Nom de la conférence: | IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems |
| Lieu de la conférence: | Paris, France |
| Date(s) de la conférence: | 1997-01-01 - 1997-12-31 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1997.628320 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1997.628320 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:19 |
| Citer en APA 7: | Kafrounni, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (janvier 1997). Cost model for VLSI/MCM systems [Communication écrite]. IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, France. https://doi.org/10.1109/dftvs.1997.628320 |
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