M. Kafrounni, Claude Thibeault, Yvon Savaria
Communication écrite (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Lieu de la conférence:
Paris, France
Date(s) de la conférence:
1997-10-20 - 1997-10-22
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30365
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:16
Citer en APA 7:
Kafrounni, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (octobre 1997). Cost model for VLSI/MCM systems [Communication écrite]. IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, France. https://doi.org/10.1109/dftvs.1997.628320
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