Bernard Antaki, Yvon Savaria
, Saman Adham, Nanhan Xiong, D. Borrione et R. Ernst
Communication écrite (1999)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| ISBN: | 0769500781 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29177/ |
| Nom de la conférence: | Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 1999) |
| Lieu de la conférence: | Munich, Germany |
| Date(s) de la conférence: | 1999-03-09 - 1999-03-12 |
| Maison d'édition: | IEEE Comput. Soc |
| DOI: | 10.1109/date.1999.761146 |
| Autres DOI associés à ce document: | 10.1145/307418.307523 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/date.1999.761146 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 05 sept. 2025 13:28 |
| Citer en APA 7: | Antaki, B., Savaria, Y., Adham, S., Xiong, N., Borrione, D., & Ernst, R. (mars 1999). Design for testability method for CML digital circuits [Communication écrite]. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 1999), Munich, Germany. https://doi.org/10.1109/date.1999.761146 |
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