A. Shooshtari, T. Touam, S. Safavi-Naeini et S. Iraj Najafi
Article de revue (2000)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27838/ |
| Titre de la revue: | Optical Engineering (vol. 39, no 3) |
| Maison d'édition: | SPIE - International Society for Optical Engineering |
| DOI: | 10.1117/1.602420 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1117/1.602420 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:15 |
| Citer en APA 7: | Shooshtari, A., Touam, T., Safavi-Naeini, S., & Najafi, S. I. (2000). Beam propagation method for analysis of er-doped integrated optics devices. Optical Engineering, 39(3), 735-737. https://doi.org/10.1117/1.602420 |
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