J. S. Chun, Patrick Desjardins
, C. Lavoie, I. Petrov, C. Cabral, J. E. Greene
Article de revue (2001)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films
(
vol.
19
,
no
5
)
Maison d'édition:
American Vacuum Society
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27505
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:03
Citer en APA 7:
Chun, J. S., Desjardins, P., Lavoie, C., Petrov, I., Cabral, C., & Greene, J. E. (2001). Interfacial Reaction Pathways and Kinetics During Annealing of 111-Textured Al-Tin Bilayers: a Synchrotron X-Ray Diffraction and Transmission Electron Microscopy Study. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 19(5), 2207-2216. https://doi.org/10.1116/1.1379800
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