J. S. Chun, Patrick Desjardins
, C. Lavoie, I. Petrov, C. Cabral et J. E. Greene
Article de revue (2001)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27505/ |
| Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 19, no 5) |
| Maison d'édition: | American Vacuum Society |
| DOI: | 10.1116/1.1379800 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.1379800 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:15 |
| Citer en APA 7: | Chun, J. S., Desjardins, P., Lavoie, C., Petrov, I., Cabral, C., & Greene, J. E. (2001). Interfacial Reaction Pathways and Kinetics During Annealing of 111-Textured Al-Tin Bilayers: a Synchrotron X-Ray Diffraction and Transmission Electron Microscopy Study. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 19(5), 2207-2216. https://doi.org/10.1116/1.1379800 |
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