An accurate on-wafer de-embedding technique with application to HBT devices characterization

Bousnina, S.; Falt, C.; Mandeville, P.; Kouki, A. B.; Ghannouchi, Fadhel M.; Bousnina, S.; Falt, C.; Mandeville, P.; Kouki, A. B.; Ghannouchi, Fadhel M.

An accurate on-wafer de-embedding technique with application to HBT devices characterization

S. Bousnina, C. Falt, P. Mandeville, A. B. Kouki, Fadhel M. Ghannouchi

Article de revue (2002)

Accéder à ce document

Lien externe

Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel

Voir chez l'éditeur officiel

Département:

Département de génie électrique

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/26809/

Titre de la revue :

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques ( vol. 50 , no 2 )

Maison d'édition:

IEEE

DOI:

10.1109/22.982218

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/22.982218

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:26809

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:20

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:02

Citer en APA 7:

Bousnina, S., Falt, C., Mandeville, P., Kouki, A. B., & Ghannouchi, F. M. (2002). An accurate on-wafer de-embedding technique with application to HBT devices characterization. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 50(2), 420-424. https://doi.org/10.1109/22.982218

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document