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Bousnina, S., Falt, C., Mandeville, P., Kouki, A. B., & Ghannouchi, F. M. (2002). An accurate on-wafer de-embedding technique with application to HBT devices characterization. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 50(2), 420-424. Lien externe
Bousnina, S., Mandeville, P., Kouki, A. B., Surridge, R., & Ghannouchi, F. M. (2002). Direct parameter-extraction method for HBT small-signal model. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 50(2), 529-536. Lien externe
Bousnina, S., Ghannouchi, F. M., & Surridge, R. (janvier 2001). Experimental study of effect of parasitic capacitances on accuracy of HBT small-signal model [Communication écrite]. International symposium of microwave & optical technology (ISMOT 2001), Montréal, Québec. Non disponible
Bousnina, S., Mandeville, P., Kouki, A. B., Surridge, R., Ghannouchi, F. M., & Perkins, T. (juin 2000). A new analytical and broadband method for determining the HBT small-signal model parameters [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2000), Boston, MA, USA. Lien externe
Bousnina, S., Ghannouchi, F. M., & Kouki, A. B. (janvier 2000). Novel direct extraction method for internal equivalent circuit parameters of HBT small-signal hybrid-pi model [Communication écrite]. European microwave conference (GAAS 2000), Paris, France. Non disponible
