S. Bousnina, C. Falt, P. Mandeville, A. B. Kouki et Fadhel M. Ghannouchi
Article de revue (2002)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26809/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 50, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/22.982218 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/22.982218 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:16 |
| Citer en APA 7: | Bousnina, S., Falt, C., Mandeville, P., Kouki, A. B., & Ghannouchi, F. M. (2002). An accurate on-wafer de-embedding technique with application to HBT devices characterization. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 50(2), 420-424. https://doi.org/10.1109/22.982218 |
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