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Electrical field analysis of nanoscaled field effect transistors

Aissa Boudjella, Zhong-Fang Jin et Yvon Savaria

Communication écrite (2003)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/26076/
Nom de la conférence: International Microprocesses and Nanotechnology Conference
Lieu de la conférence: Tokyo, Japan
Date(s) de la conférence: 2003-10-29 - 2003-10-31
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/imnc.2003.1268735
URL officielle: https://doi.org/10.1109/imnc.2003.1268735
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:19
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:06
Citer en APA 7: Boudjella, A., Jin, Z.-F., & Savaria, Y. (octobre 2003). Electrical field analysis of nanoscaled field effect transistors [Communication écrite]. International Microprocesses and Nanotechnology Conference, Tokyo, Japan. https://doi.org/10.1109/imnc.2003.1268735

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