Aissa Boudjella, Zhong-Fang Jin et Yvon Savaria
Communication écrite (2003)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26076/ |
| Nom de la conférence: | International Microprocesses and Nanotechnology Conference |
| Lieu de la conférence: | Tokyo, Japan |
| Date(s) de la conférence: | 2003-10-29 - 2003-10-31 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/imnc.2003.1268735 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/imnc.2003.1268735 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:06 |
| Citer en APA 7: | Boudjella, A., Jin, Z.-F., & Savaria, Y. (octobre 2003). Electrical field analysis of nanoscaled field effect transistors [Communication écrite]. International Microprocesses and Nanotechnology Conference, Tokyo, Japan. https://doi.org/10.1109/imnc.2003.1268735 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
