Sunjaya Djaja, Glenn H. Chapman, Desmond Y. H. Cheung, Yves Audet
Communication écrite (2003)
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Département:
ISBN:
0769520421
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003)
Lieu de la conférence:
Boston, MA, United states
Date(s) de la conférence:
2003-11-03 - 2003-11-05
Maison d'édition:
IEEE Comput. Soc
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25952
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:01
Citer en APA 7:
Djaja, S., Chapman, G. H., Cheung, D. Y. H., & Audet, Y. (novembre 2003). Implementation and testing of fault-tolerant photodiode-based active pixel sensor (APS) [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250095
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