Sunjaya Djaja, Glenn H. Chapman, Desmond Y. H. Cheung et Yves Audet
Communication écrite (2003)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25952/ |
| Nom de la conférence: | 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003) |
| Lieu de la conférence: | Boston, MA, United states |
| Date(s) de la conférence: | 2003-11-03 - 2003-11-05 |
| Maison d'édition: | IEEE Comput. Soc |
| DOI: | 10.1109/dftvs.2003.1250095 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250095 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:06 |
| Citer en APA 7: | Djaja, S., Chapman, G. H., Cheung, D. Y. H., & Audet, Y. (novembre 2003). Implementation and testing of fault-tolerant photodiode-based active pixel sensor (APS) [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250095 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
