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Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits

Zhong-Fang Jin, Jean-Jacques Laurin et Yvon Savaria

Communication écrite (2003)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/25830/
Nom de la conférence: Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003)
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ccece.2003.1226331
URL officielle: https://doi.org/10.1109/ccece.2003.1226331
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:20
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:06
Citer en APA 7: Jin, Z.-F., Laurin, J.-J., & Savaria, Y. Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits [Communication écrite]. Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003). https://doi.org/10.1109/ccece.2003.1226331

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