Meng Lu, Yvon Savaria, Bing Qiu et Jacques Taillefer
Communication écrite (2003)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25702/ |
Nom de la conférence: | 18th IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems |
Lieu de la conférence: | Boston, MA, USA |
Date(s) de la conférence: | 2003-11-05 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/dftvs.2003.1250091 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250091 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:12 |
Citer en APA 7: | Lu, M., Savaria, Y., Qiu, B., & Taillefer, J. (novembre 2003). IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for water safe integration [Communication écrite]. 18th IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Boston, MA, USA. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250091 |
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