B. Nicolescu, Paul Perronnard, Raoul Velazco et Yvon Savaria
Communication écrite (2003)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25616/ |
| Nom de la conférence: | 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003) |
| Lieu de la conférence: | Cambridge, MA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2003-11-05 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.2003.1250134 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250134 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:12 |
| Citer en APA 7: | Nicolescu, B., Perronnard, P., Velazco, R., & Savaria, Y. (novembre 2003). Efficiency of transient bit-flips detection by software means a complete study [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Cambridge, MA, USA. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250134 |
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