Basarab Nicolescu, Paul Perronnard, Raoul Velazco, Yvon Savaria
Communication écrite (2003)
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Département:
ISBN:
0769520421
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003)
Lieu de la conférence:
Cambridge, MA, USA
Date(s) de la conférence:
2003-11-05
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25616
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:00
Citer en APA 7:
Nicolescu, B., Perronnard, P., Velazco, R., & Savaria, Y. (novembre 2003). Efficiency of transient bit-flips detection by software means a complete study [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Cambridge, MA, USA. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250134
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