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Electrical Field Analysis of Nanoscale Field Effect Transistors

Aissa Boudjella, Zhongfang Jin et Yvon Savaria

Article de revue (2004)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/25255/
Titre de la revue: Japanese Journal of Applied Physics (vol. 43, no 6)
Maison d'édition: Institute of Physics
DOI: 10.1143/jjap.43.3831
URL officielle: https://doi.org/10.1143/jjap.43.3831
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:19
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:05
Citer en APA 7: Boudjella, A., Jin, Z., & Savaria, Y. (2004). Electrical Field Analysis of Nanoscale Field Effect Transistors. Japanese Journal of Applied Physics, 43(6), 3831-3837. https://doi.org/10.1143/jjap.43.3831

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